ในยุคเทคโนโลยีปัจจุบัน อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์มีความสำคัญอย่างยิ่งในชีวิตประจำวันของเรา ตั้งแต่สมาร์ทโฟน คอมพิวเตอร์ ไปจนถึงเครื่องใช้ไฟฟ้าต่าง ๆ ความละเอียดและความซับซ้อนของอุปกรณ์เหล่านี้เพิ่มขึ้นอย่างรวดเร็ว การศึกษาและวิจัยโครงสร้างภายในของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ในระดับจุลภาพจึงกลายเป็นสิ่งจำเป็น Microscope เป็นเครื่องมือสำคัญที่ช่วยให้นักวิจัยและวิศวกรสามารถมองเห็นและวิเคราะห์โครงสร้างเหล่านี้ในระดับที่เล็กมาก ซึ่งเป็นประโยชน์อย่างมากในการพัฒนาและปรับปรุงประสิทธิภาพของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์
หนึ่งใน Microscope ที่ใช้บ่อยในการศึกษาอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning Electron Microscope หรือ SEM) SEM ใช้ลำแสงอิเล็กตรอนในการสร้างภาพของพื้นผิววัสดุ ซึ่งสามารถขยายได้ถึงระดับนาโนเมตร ทำให้สามารถมองเห็นรายละเอียดเล็ก ๆ ของโครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์ เช่น แทรนซิสเตอร์, เซมิคอนดักเตอร์, และวงจรรวม (Integrated Circuits) การใช้ SEM ช่วยให้นักวิจัยสามารถตรวจสอบคุณภาพของการผลิต และระบุจุดบกพร่องหรือความเสียหายที่อาจเกิดขึ้นในกระบวนการผลิต อีกหนึ่งเครื่องมือที่มีความสำคัญคือกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope หรือ TEM) ซึ่งแตกต่างจาก SEM ตรงที่ TEM ใช้ลำแสงอิเล็กตรอนผ่านตัวอย่างเพื่อสร้างภาพภายในของวัสดุ การใช้ TEM ช่วยให้สามารถเห็นโครงสร้างภายในที่ละเอียดมาก ๆ ของวัสดุ เช่น การจัดเรียงตัวของอะตอมในคริสตัลหรือการกระจายตัวของสารเติมแต่งในเซมิคอนดักเตอร์ การศึกษาเหล่านี้มีความสำคัญต่อการพัฒนาอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีประสิทธิภาพสูงขึ้นและเสถียรภาพที่ดีขึ้น
กล้องจุลทรรศน์แบบแรงอะตอม (Atomic Force Microscope หรือ AFM)
ยังถูกใช้ในการศึกษาโครงสร้างพื้นผิวของวัสดุในระดับนาโนเมตร AFM ใช้ปลายเข็มที่มีความละเอียดสูงในการสแกนพื้นผิวของตัวอย่าง ทำให้สามารถสร้างภาพสามมิติของพื้นผิววัสดุได้ การใช้ AFM ช่วยให้นักวิจัยสามารถวิเคราะห์พื้นผิวของวัสดุ เช่น ความหยาบของพื้นผิว, การกระจายตัวของสารเคลือบ, และการเคลือบสารนาโนเทคโนโลยี ซึ่งมีผลต่อคุณสมบัติทางไฟฟ้าและกลของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์
รายละเอียดเพิ่มเติม: https://www.opticascope.com/